Η κυρία Σοφία Τσιλίδου, μεταπτυχιακή φοιτήτρια στην Κατεύθυνση Στατιστικής και Επιχειρησιακής Έρευνας, θα παρουσιάσει τη διπλωματική της εργασία με τίτλο
«Μπεϋζιανή Συμπερασματολογία σε προβλήματα νανομετρολογίας επιφανειών – Bayesian inference on rough surfaces nanometrology problems»
την Παρασκευή 14/2/2020, στις 12:00 μμ, στην αίθουσα Α32.
Η τριμελής επιτροπή
Β. Κωνσταντούδης, ΕΚΕΦΕ Δημόκριτος (συνεπιβλέπων)
Α. Μπουρνέτας (συνεπιβλέπων)
Σ. Τρέβεζας